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    T-SCAN:使用接觸式探針進(jìn)行單點(diǎn)測量
    

    
[原創(chuàng)內(nèi)容]
發(fā)布于：2022-08-31 10:04:27
閱讀：460次    編輯：思誠市場部
    
    



    想知道如何掃描被光學(xué)跟蹤器隱藏的區(qū)域？在本期視頻中，David將教您借助T-POINT接觸式探針擴(kuò)展測量范圍。您可以邊旋轉(zhuǎn)零件邊掃描，對所有位置上的相同特征（例如孔）進(jìn)行探測，并將其作為參考點(diǎn)。
    

    

    
    
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     標(biāo)題：T-SCAN:使用接觸式探針進(jìn)行單點(diǎn)測量　　　　　本文地址：http://thesnowfest.com/article-2318.html 

    


    

    

    
    


    


    


    

    

    

    




    
    
    
        
    
    
    
    
        
    
    

    

    

    

    


    



    

    

    

    

    
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